APPLICATIONS
반도체 검사장치 분야
홈
응용분야 및 제품
반도체 검사장치 분야

주요물성 | 단위 | 측정값 |
표면 저항 | Ω / □ | 104 ~ 1013 (조절 가능) |
유기용매 처리후 표면저항 변화 | <101 | |
후속 열처리 후 표면저항 변화 * | <101 |
주요물성 | 단위 | 측정값 |
표면 저항 | Ω / □ | 104 ~ 1013 (조절 가능) |
유기용매 처리후 표면저항 변화 | <101 | |
후속 열처리 후 표면저항 변화 * | <101 |