APPLICATIONS

반도체 검사장치 분야

응용분야 및 제품반도체 검사장치 분야

ESD film mounted on mold cartridge

ICF – ESD

line Feature

  • 반도체 검사 kit용 내열성 대전방지 필름
  • 우수한 표면저항 안정성
주요물성 단위 측정값
표면 저항 Ω / □ 104 ~ 1013
(조절 가능)
유기용매 처리후 표면저항 변화 <101
후속 열처리 후 표면저항 변화 * <101

* 200℃ 100시간 방치 후 표면저항 변화량